半導(dǎo)體IC-AOI全自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備
Product introduction
適用于：半導(dǎo)體IC外觀檢測(cè)
檢測(cè)精度：0.05mm
特點(diǎn)：
可檢測(cè)產(chǎn)品6個(gè)不同面
可檢測(cè)IC不良多達(dá)30種（可依客戶需求開發(fā)）
可兼容IC大小從8mm到40mm
高速轉(zhuǎn)塔快速分料
料管重力式上下料
UPH： 18000
檢測(cè)準(zhǔn)確率：> 99%
檢測(cè)項(xiàng)目：
塑料體類缺陷（毛邊、殘膠、崩裂、刮傷）
引腳類缺陷（裸銅、毛刺、彎曲、變形、斷角、長(zhǎng)短腳、偏移…）
散熱片缺陷（鍍層玷污、溢膠、毛邊、刮傷）
印記缺陷