適用于:IC 功能測試機(jī) & 外觀檢測自動(dòng)化
特點(diǎn):
功能測試: ICT 測試 (e.g. DC, DVDS, RAS, RG, QA…)
AOI: 同時(shí)檢測6個(gè)面的外觀,鐳射缺陷,pin角缺損…
分選: 編帶封裝
測試: ICT 測試 + 所有面的外觀檢測
上料: 振動(dòng)盤
下料: 編帶
工位:24
換盤:自動(dòng)換盤,配合VGA實(shí)現(xiàn)無人操作
分Bin:
功能bin: 8 個(gè) bins
外觀 bin: 3 個(gè) bins
尺寸: 2000*1300*1700mm
UPH: 12000 (測試時(shí)間200ms)