Touch ID 自動功能測試設(shè)備
產(chǎn)品介紹
用途：用于各類手機、平板電腦等指紋識別模組(Touch ID)的全自動功能測試
配置：整線配12個治具，每個治具2個測試穴位，單機Total 24個測試穴
串接：可實現(xiàn)多臺Handler的串接，實現(xiàn)更高的UPH
UPH: 1250（測試時間152S）
特征：
在線式自動化測試設(shè)備
自動AAB測試
可靈活在此線體上增加或減少站別
模式：Offline & Inline（模式更換需修改部分機構(gòu)）